Shin Shou Optical Automation

すべてのダイに、
私たちの約束の印を

光学撮像とマシンビジョンを核に、AIアルゴリズムモジュールもオプションでご用意。半導体・光電子・医療バイオ・一般製造向けのカスタムAOI検査自動化装置をつくります。

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Silicon Chip 外観検査装置
Featured Machine

Silicon Chip 外観検査装置

解像度1.5 μm。表裏を一度に、ダイをブルーテープ上のまま検査します。量産実績:リピート受注で計3台、うち2台は2年以上量産ラインで稼働しています。

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秋毫立鑑 印諾長存
Our Promise

秋毫立鑑 印諾長存

印章は契約であり、約束です。出荷するすべての装置に、辰祥の落款が押されています。

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対象業界
  • サイエンスパーク入居企業
  • 半導体後工程
  • 光電子部品
  • 医療・バイオ製造
  • 製造業の高度化
About Shin Shou

辰祥について

半導体メーカーと装置メーカーの実戦経験豊富な精鋭が集結し、複雑な機構・電気と画像処理の課題を、生産ラインの歩留まりを守るインテリジェント装置へと作り上げます

辰祥光学自動化は2020年に台湾・新竹で設立され、AOI外観検査装置とマシンビジョン検査装置の開発を専門とし、光学撮像・機構・電気制御・ソフトウェアを一体で手がけています。メンバーは半導体工場や装置メーカーの出身で、検査装置の開発や光電子分野の生産自動化に精通しています。

要件ヒアリング、サンプルの撮像検証、機構設計からソフトウェア、立ち上げ・検収まで一貫して対応し、目視検査を自動光学検査に置き換えます。インダストリー4.0のスマート製造への移行を支援し、人の目と経験に頼っている検査工程を自動化します。

設立
2020台湾・新竹
チーム
半導体工場・装置メーカー出身
検査ソリューション
半導体・光電子・医療バイオ・一般製造
統合力
光学・機構・電気・ソフトすべて社内で対応
Core Technologies

コア技術

Deep Learning

AI欠陥検出(オプション)

オプションのAIアルゴリズムツールモジュールにより、実際の生産画像で欠陥分類や保護具の着用判定モデルを学習し、過検出(誤検出)と目視再判定を削減します。

Vision Module

画像検査モジュール開発

産業用カメラ・レンズ・多角度照明による撮像設計で、エリアスキャンとラインスキャンに対応。μm単位のダイから透明部品、反射の強い金属部品まで安定して撮像します。

Custom Machine

カスタム装置開発

搬入出、搬送、AOI、後工程の動作を一台に統合。ラインのタクトに合わせて設計し、インラインで全数検査、不良品はその場で排出します。

Custom Software

カスタムシステム開発

操作画面、統計レポート、マッピング、バーコードによるトレーサビリティ、MES/ERP連携まで、お客様の運用に合わせて構築します。

生産ラインの自動化・デジタル化4つの技術でトレーサブルなラインを実現
Why Shin Shou

辰祥が選ばれる理由

01

エンジニアが直接担当いたします

撮像検証から検収まで、同じエンジニアチームが一貫して担当いたします。ご要望が伝言で薄まったり、引き継ぎの中で食い違ったりすることはございません。

02

真のカスタム対応

機構・光学・ソフトウェアをすべて社内で手がけておりますので、ラインのタクトや現場の運用に合わせて調整いたします。既製の装置をそのままラインに当てはめることはいたしません。

03

まず検証、それから装置

まずお客様のサンプルを実際に撮像し、欠陥が写ること・検出できることを確認したうえで、装置設計に進ませていただきます。撮像検証は無料です。

これまでのお客様の業種
  • LEDダイメーカー
  • プローブカードメーカー
  • 医療・バイオ消耗品メーカー
  • 受動部品メーカー
Industries & Cases

導入分野と実績

プローブの外観検査、画像による計数、曲げ加工を統合。後工程・プローブカードメーカー向けに、AOIと後段動作を一体化した装置を製作し、カセット投入から統計レポートまで一貫対応します。

自動プローブ曲げ装置

自動プローブ曲げ装置

ストレートプローブの受入から曲げ加工まで、一台で完結。

プローブはウェハテストの重要な消耗品です。曲げ角度や針先寸法のわずかな差が、プローブカード全体の歩留まりを左右します。辰祥は受入検査・計測位置決め・曲げ加工を一台に統合。カセットに投入したストレートプローブを自動搬送し、AOIで計測したうえで設定パラメータどおりに曲げ、全数を画像記録で追跡できます。

  • カセット搬送・AOI検査・曲げの3モジュールを統合し、人手搬送と待ち時間を削減
  • 長さ位置決め・曲げ位置決め・針先検査の3カメラ構成、最高0.73 μmの解像度
  • 曲げ角度はパラメータで設定。ストレート/曲げプローブとも加工前後に検査
主な仕様
対応材質
W、ReW、BeCu、Pb
針径
70–250 μm
曲げ角度
100°–105°
針先径
12–18 μm
  • AOI
  • 搬送統合
  • 曲げモジュール
プローブ計数装置

プローブ計数装置

正確に数え、ひと目でわかる。計数・レポート・権限を一体化。

プローブは微小かつ大量で、手作業の計数は時間がかかり再確認も困難です。辰祥は画像計数で目視カウントを置き換え、現場の運用に合わせて操作画面と集計レポートを個別設計。ログイン、計数、拡大確認、レポート出力までを一つの画面で行え、管理者はロットごとの数量を常に把握できます。

  • 画像による自動計数で、1本ずつの手作業カウントを置き換え
  • 操作画面とレポート形式をユーザー要件に合わせてカスタマイズ
  • オペレーターログインと権限管理で記録を追跡可能に
主な仕様
計数方式
画像認識
レポート
カスタム集計
権限
オペレーター別ログイン
  • 画像計数
  • カスタムレポート
  • 権限管理
LED & Siチップ外観検査装置

LED & Siチップ外観検査装置

ダイはブルーテープの上のまま。表も裏も、確実に。

ダイを裏返す・移し替えるたびに、破損のリスクが生まれます。辰祥の外観検査装置はブルーテープ上でそのまま検査し、表裏両面に対応。自社開発の外観検査ソフトウェアとマッピング出力を備えています。プリスキャンで検査範囲を算出し、パターン位置決めで1ダイずつ撮像するため、6 milの小さなダイも見逃しません。

  • ブルーテープ上で直接、表裏両面を検査
  • プリスキャンによる範囲算出+光学パターン位置決め
  • 自社開発ソフトウェアでウェハマッピングを出力
主な仕様
対応ダイ
6–150 mil
リングフレーム
10インチ(内径243 mm)
検査範囲
195 × 195 mm
解像度
1.5 μm/px
  • 1.5 μm/px
  • 両面検査
  • マッピング
  • マイクロクラック検出
セラミック基板外観&レーザー刻印OCR検査装置

セラミック基板外観&レーザー刻印OCR検査装置

刻印・読取・外観検査を、一台で一度に。

セラミック基板の刻印品質は、後工程のトレーサビリティを左右します。辰祥は532 nmグリーンレーザー刻印、OCR文字認識、外観検査を一台に統合。光学パターンで位置決めしたうえで英数字18桁を刻印し、その場で読み取り照合するため、全数が正しく刻印され読める状態であることを確認できます。生産能力は毎時400枚です。

  • 532 nmグリーンレーザー刻印、最小文字高0.2 mm
  • 光学パターン位置決め、治具位置精度±20 μm
  • 刻印直後にOCR照合と外観検査を実施
主な仕様
基板サイズ
50×60/60×70 mm
刻印内容
英数字18桁
文字高
0.2–0.6 mm
生産能力
400枚/時
  • OCR
  • レーザー刻印
  • 外観検査
レーザー刻印OCR検査装置

レーザー刻印OCR検査装置

刻んだ印は消えない。読み取りは間違えない。

ラベルは剥がれ、インクはかすれますが、レーザー刻印は残り続けます。辰祥は高精度・高速なレーザーで製品IDを刻印し、OCRソフトウェアで1文字ずつ読み取って、印字内容・型番・ロット番号が正しいかを確認。システムのインターロックとも連携できます。すべてのIDが生産履歴にひも付き、工程の問題を追跡できます。

  • 高精度・高出力のレーザー刻印で、剥がれず消えないマーキング
  • OCRで文字・型番・ロットを読み取り、システム連携でインターロック
  • 製品IDを生産履歴にひも付け、工程の原因分析に活用
主な仕様
刻印
高精度レーザー
読取
OCR照合
用途
半導体・光電子・医療・食品・一般製造
  • レーザー刻印
  • OCR
  • 生産履歴
コンタクトレンズ検査システム

コンタクトレンズ検査システム

目に装着する製品に、21 μmの欠陥も許されない。

コンタクトレンズはほぼ透明で、気泡やエッジ割れを目視で安定して判定するのは困難です。辰祥は4096 × 3000の高解像度カメラで撮像し、1枚あたり平均300 msで検査、最小21 μmの欠陥を検出します。良品・不良品サンプルを移動・回転させて撮影した500枚の画像でシステムを検証しました。

  • 気泡・エッジ割れ・バリ・キズ・付着物を検出
  • 最小欠陥21 μm、1枚あたり約300 ms
  • 多角度サンプル画像500枚でシステムを検証
主な仕様
カメラ
4096 × 3000
画素サイズ
6.9 μm
最小欠陥
21 μm
検査時間
300 ms/枚
  • 気泡
  • エッジ割れ
  • キズ
  • 透明部品検査
細胞カウンター

細胞カウンター

染色せず、壊さずに。細胞の数を、画像が語る。

従来の細胞計数は、染色やサンプルの破壊が必要な場合が多く、時間も消耗品もかかります。辰祥は自社開発の撮像方法とソフトウェアのロジック演算を組み合わせ、非破壊・染色剤不要で細胞数を算出。サンプルはその後も利用できます。

  • 非破壊検査で、サンプルを後工程でも利用可能
  • 染色剤不要で、消耗品と前処理時間を削減
  • 自社開発アルゴリズムで画像から自動計数
主な仕様
方式
非破壊画像計数
試薬
染色剤不要
コア
自社アルゴリズム
  • 非破壊
  • 染色不要
  • アルゴリズム
AIディープラーニング保護具着用チェックモジュール

AIディープラーニング保護具着用チェックモジュール

ラインに入る前に、AIが保護具を一つずつ確認。

人の目に頼る安全点検には、どうしても見落としが生じます。辰祥はディープラーニングでヘルメット、雨合羽、手袋などの保護具を学習させ、実際に着用した人員の着用状況をリアルタイムに判定。ゲートやライン入口の自動チェックとして、安全ルールを個人の意識だけに頼らない仕組みにします。

  • ディープラーニングでヘルメット・雨合羽・手袋などを認識
  • 実際の着用状態をリアルタイムに判定し即時表示
  • 現場に合わせて他の保護具も追加学習可能
主な仕様
技術
AIディープラーニング
判定
リアルタイム画像認識
用途
ライン入口・入退室ゲート
  • AIディープラーニング
  • 労働安全
  • リアルタイム
MLCC外観・梱包検査装置

MLCC外観・梱包検査装置

検査してから梱包へ。テーピング前に、一つひとつを辰祥が確認。

MLCCは微小で出荷数量が膨大、多くはテーピング梱包で出荷されます。不良品を梱包してしまうと、見つかるのはお客様の工場です。辰祥は梱包前に1個ずつ撮像検査し、高角度・低角度の側方照明で本体と電極を確認。合格品だけを梱包工程へ送ります。01005から1210まで一台で共用できます。

  • 梱包前に全数検査し、不良品をテーピング前に排出
  • 高角度+低角度の側方照明で本体の欠けや電極の欠陥を可視化
  • 01005–1210のサイズを共用でき、段取り替えが迅速
主な仕様
対応サイズ
01005–1210
カメラ
640×480 CCD
レンズ
0.7X–4.5X
照明
高/低角度側方照明
  • 01005–1210
  • 梱包前検査
  • 外観検査
金属製品外観検査

金属製品外観検査

一つの光で見えない欠陥も、光を変えれば隠れられない。

金属表面は反射が強く、単一の照明ではキズや打痕が反射に埋もれがちです。辰祥は同じワークを異なる照明で複数回撮影し、それぞれ異なる画像効果を得て総合的に判定。これまで安定して検出しにくかった欠陥をはっきり浮かび上がらせ、検出力を高めながら再判定の負担を減らします。

  • 複数照明で順次撮影し、1ワークから複数の画像を取得
  • 総合判定でキズ・打痕などの検出力を向上
  • 材質や欠陥の種類に合わせて照明の組み合わせを調整
主な仕様
撮像
多照明・複数回撮影
対象
プレス・機械加工金属部品
重点
反射面の欠陥
  • 多照明撮影
  • 金属部品
  • 反射面の欠陥
化粧品外観検査装置

化粧品外観検査装置

ブランドの印象は、パッケージの細部から。

お客様が最初に目にするのは、パッケージと印字です。辰祥はワークごとに撮像方法を設計。円柱状の容器はラインスキャンで外周を展開し、化粧箱は文字と外観を検査して印刷・包装品質を確認します。一貫した基準で、目視検査の大部分を置き換えます。

  • ワークに合わせた撮像設計、円柱物はラインスキャンで外周を展開
  • 化粧箱の文字・印刷・外観キズを検査
  • 一貫した基準で目視検査の大部分を置き換え
主な仕様
撮像
エリア+ラインスキャン
対象
円柱容器、化粧箱
項目
印刷・文字・外観
  • 外観検査
  • ラインスキャン
  • 印刷検査
Featured Machine

主力装置

Silicon Chip 外観検査装置
AOI Inspection · BW / Color

Silicon Chip
外観検査装置

ダイのAOI外観検査:表裏両面を一度に検査し、ダイはブルーテープに貼ったまま検査できます。モノクロとカラーの2機種から、欠陥の種類に合わせて選べます。

お客様の量産ラインで2台が2年以上稼働しています

1.5μm/px2,500万画素 産業用カメラ
>3μm最小検出欠陥サイズ
2面表裏を一度に検査
195×195 mm10インチ リングフレームの検査範囲
詳細仕様書を請求する→

ブルーテープ上でそのまま検査

ダイのピックアップや反転は不要。X/Y/Z/θの4軸ステージで位置決めし、表裏を一度に検査します。

3光源の複合照明

同軸照明に高角・低角の斜光照明を組み合わせ、マイクロクラック(Micro-crack)、チッピング、欠けを立体的に浮かび上がらせます。

AI欠陥分類とトレーサビリティ

オフライン再判定にAI分類を搭載。バーコードでレシピ呼び出し、マッピングファイルとNG画像をすべて保存します。

Articles & News

技術コラム・ニュース

辰祥のロゴが印章である理由
お知らせ2026.10.16

辰祥のロゴが印章である理由

中華圏の文化では、押印は契約と責任を意味します。その意味をブランドに込めました。出荷するすべての装置は、辰祥が落款を押した約束です。

マルチ照明撮像:金属部品のキズや打痕を見える化する
技術解説2026.10.13

マルチ照明撮像:金属部品のキズや打痕を見える化する

金属表面は反射が強く、単一の照明では欠陥がハレーションに埋もれがちです。照明角度を変えて複数回撮像し、判定しやすい画像に合成します。

Silicon Chip 外観検査装置:表裏を一度に、ブルーテープ上でそのまま検査
半導体2026.10.09

Silicon Chip 外観検査装置:表裏を一度に、ブルーテープ上でそのまま検査

2,500万画素の産業用カメラ、1.5 μm/pixelの解像度で3 μm以上の欠陥を検出。モノクロとカラーの2機種で、ダイのピックアップや反転は不要です。

技術ノート|カメラの解像度と視野:無駄なコストとタクト低下を避ける選び方
技術解説2026.10.06

技術ノート|カメラの解像度と視野:無駄なコストとタクト低下を避ける選び方

検出能力は解像度の約3〜5倍。解像度を2倍にすると撮像枚数は4倍に。500万〜2,500万画素カメラの解像度別視野と、実際のプロジェクトでのトレードオフをまとめました。

技術ノート|組立検査と大型ワーク:はんだ付け、ナットとワッシャ、コイルの絶縁シート
技術解説2026.09.24

技術ノート|組立検査と大型ワーク:はんだ付け、ナットとワッシャ、コイルの絶縁シート

はんだ不足・はんだ切れ・未はんだはすべて撮像できますが、難しいのは形状が一定しない部品リードです。制御盤のナット、ネジの合いマーク、部品型番は認識可能。大型コイルはまず回転・昇降機構の設計から。

ブルーテープ上のSiダイ外観検査:最も難しい5つの課題と、私たちが出した答え
半導体2026.07.28

ブルーテープ上のSiダイ外観検査:最も難しい5つの課題と、私たちが出した答え

ダイを取り外さず、反転もせず、ブルーテープ上でマイクロクラック・金バンプ・変色・枠線断線を検査。4年間・10回のサンプル検証で、150 milから5 milまで対応しました。

Free Assessment

無料評価のご相談

ラインで最も見えにくい工程を、私たちにご相談ください。

対象物の写真、欠陥サンプル、必要な処理能力をお知らせください。まず光学撮像検証(照明とカメラの選定)を行い、実現できるか、どう実現するかをご提案します。評価は無料です。

  • 撮像検証は無料
  • 秘密保持契約に対応

Process

  1. 01要件ヒアリングとサンプル撮像
  2. 02光学検証と実現性レポート
  3. 03装置設計・製作とソフトウェア開発
  4. 04工場検収・操作トレーニング・保証

Direct

電話/FAX
+886-3-516-5662 FAX +886-3-573-3281
所在地
〒300 台湾 新竹市 埔頂路27号 10階-1
営業時間
月〜金 9:00〜18:00(台湾時間)

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