技术笔记｜背光、同轴光、环形光：什么缺陷该用哪一种光？

机器视觉有一句老话：“打光决定了一半的成败。”同一个缺陷，换一种光可能从看不见变成一目了然。以下用四个实际案例，说明三种最常用光源的适用场景。

背光：要看“轮廓”与“有没有”

背光从物体后方照射，物体呈现剪影，轮廓最锐利。

• OLED 线路缺失：背光下缺失处透光，检测效果最佳
• 探针计数：透明针盒以背光成像，计数最稳定
• 陶瓷基板厚度：以背光拍摄陶瓷片边缘，计算厚度；机构需让陶瓷片、相机与背光三者相互垂直，测量才准

同轴光：要看“平面上的变化”

同轴光与相机光轴同方向照射，平整面反光均匀，凹凸或压痕会变暗。

• OLED 线路压伤：同轴光检测效果最佳，并以图像自比对找出异常
• UV 胶带外观：同轴光加底光，暗缺陷以红色、亮缺陷以蓝色标记；以外切圆定义检测区域

环形光与侧向光：要看“划痕与立体”

低角度或侧向照射时，划痕、麻点的边缘会产生阴影或反光，在平整面上被凸显出来。高角度环形光则让金属面成像均匀，适合金属区的划痕。

小结

先想清楚“缺陷和正常区域在什么光线下差异最大”，再选光源；很多时候答案是两种以上的组合。这也是辰祥评估时一定会用多种光源比较的原因。